納米CT相對(duì)于現(xiàn)今仍然普遍應(yīng)用的射線膠片照相(RT)技術(shù)，X射線數(shù)字成像（DR）實(shí)時(shí)性強(qiáng)、檢測(cè)速度快、探測(cè)效率高、X射線輻射劑量小，曝光條件易于掌握。DR可以方便地對(duì)圖像進(jìn)行數(shù)字化存儲(chǔ)和后處理，在線實(shí)時(shí)地對(duì)生產(chǎn)工件結(jié)構(gòu)介質(zhì)不連續(xù)性、結(jié)構(gòu)形態(tài)以及介質(zhì)物理密度差異等質(zhì)量缺陷進(jìn)行無損檢測(cè)，被廣泛地應(yīng)用汽車、航空航天、國防工業(yè)、電子、鑄造焊接、壓力容器等領(lǐng)域無損檢測(cè)及評(píng)估，在工程質(zhì)量監(jiān)督和產(chǎn)品質(zhì)量保證方面發(fā)揮著極其重要的作用。

工業(yè)計(jì)算機(jī)層析成像(工業(yè)CT)

工業(yè)CT是工業(yè)用計(jì)算機(jī)層析成像技術(shù)的簡(jiǎn)稱，它能在對(duì)檢測(cè)物體無損傷條件下，以二維斷層圖像或三維立體圖像的形式，清晰、準(zhǔn)確、直觀地展示被檢測(cè)物體內(nèi)部的結(jié)構(gòu)、組成、材質(zhì)及缺損狀況。它以X射線掃描、探測(cè)器采集的數(shù)字投影序列為基礎(chǔ)，重建掃描區(qū)域內(nèi)被檢試件橫截面的射線衰減系數(shù)分布映射圖像。可對(duì)被檢試件的結(jié)構(gòu)、密度、特征尺寸等物理性質(zhì)進(jìn)行檢測(cè)評(píng)估和計(jì)量。工業(yè)CT作為一種無損的非接觸式檢測(cè)技術(shù)，是汽車零部件、航空航天產(chǎn)品、電子元器件、機(jī)械產(chǎn)品等關(guān)鍵零部件進(jìn)行無損檢測(cè)、無損評(píng)價(jià)以及計(jì)量測(cè)試等質(zhì)量分析的重要檢測(cè)手段。